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關(guān)于
新湖南客戶端 2024-09-17 23:15:29
【關(guān)鍵詞】半導體芯片光學檢測
【創(chuàng)新項目】高精度顯示芯片外觀檢測
【創(chuàng)業(yè)者速寫】李作棟，美國伍斯特理工學院、波士頓大學工學雙碩士，擁有豐富的芯片行業(yè)知識儲備，主要負責公司的項目對接、市場調(diào)研和硬件研發(fā)工作。
【創(chuàng)業(yè)金句】激情創(chuàng)業(yè)，誠信立業(yè)，專業(yè)敬業(yè)，成就事業(yè)。
在工藝制造流程中，傳統(tǒng)的半導體芯片缺陷檢測，普遍存在缺陷難發(fā)現(xiàn)、檢測精度與效率低和新缺陷易遺漏三大技術(shù)難點，嚴重影響著工業(yè)檢測的效率。
李作棟及其團隊研發(fā)的自適應光源控制系統(tǒng)、基于分治策略的人工智能視覺識別算法和正樣本學習三大核心技術(shù)，可以解決上述問題，將檢測精度率穩(wěn)定在99.9%以上。其原理是通過改進基于大模型的深度學習算法，將分割精確到個位數(shù)像素，通過改進成像方式，使重點缺陷異常更加顯著。
目前，項目產(chǎn)品之一的后道檢測設備AOI外觀機，將過卡率降低至 1%，漏卡率降低至0.5%，極大提高了芯片檢測的準確性，降低了生產(chǎn)成本，打破了技術(shù)被國外壟斷的格局，多家大型光電公司紛紛加購。項目產(chǎn)品之二的前道檢測工藝自動鏡檢機，通過物鏡對wafer片進行自動對焦、識別，實現(xiàn)自動wafer的外觀鏡檢。該系統(tǒng)自動化程度高，操作簡便，測量準確，能夠有效的防止作業(yè)過程的漏檢、誤檢的發(fā)生。
李作棟及團隊一“芯”一意改進項目產(chǎn)品，持續(xù)提升精度檢測質(zhì)量，未來，這個芯片細分賽道的發(fā)展可觀。
責編：曹婕妤
一審：潘文秀
二審：詹娉俏
三審：熊佳斌
來源：新湖南客戶端
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